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LiProbe® Perspective 1

Tests de semi-conducteurs (Test de Wafers) LiProbe®

MEMS lamella beams enable highly flexible beam designs with variable cross-sections for demanding high-frequency and high-current applications.

Données techniques

Spécifications
Pas minimum de l'échantillon 60 µm
Surface de contact max. 105 mm x 105 mm
Température -55°C...+180°C
Intensité maximale admissible à température ambiante 1300 mA
Force de contact pour une livraison recommandée 1,4 cN - 3,8 cN
Bande passante analogique à la limite -1 dB 100 GHz
Matériaux de contact
Matériau de contact 1 Gold
Matériau de contact 2 Palladium
Matériau de contact 3 Diverse
Matériau de contact 4 Solder ball
Matériau de contact 5 Aluminium
Matériau de contact 6 Copper

Service de cartes d'essai

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Service Cartes de Test FEINMETALL