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メモリスト ( 製品):
ViProbe® II Perspective 1

Semiconductor Testing (ウェハテスト) ViProbe® II

ViProbe® II integrates proven ViProbe® technology with enhanced features for extended lifetime and wafer safety.

技術データ

仕様
試験対象物の最小ピッチ 50 µm
コンタクトエレメントの最小直径 1,6 mil
最大接触面積 105 mm x 105 mm
温度 -55°C...+180°C
室温での電流容量 800 mA
推奨配送時の接触力 2,4 cN - 10 cN
接触材料
接触材料 1 Gold
接触材料 2 Palladium
接触材料 3 Diverse
接触材料 4 Solder ball
接触材料 5 Aluminium
接触材料 6 Copper

プローブカードサービス

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