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メモリスト ( 製品):
Semiconductor Testing (ウェハテスト)

LiProbe®

Lamella probes offer various advantages in terms of RF and force requirements. The short length of the probe as well as the flexible amount of lamellae makes it the perfect solution for sophisticated applications.

技術データ

仕様
試験対象物の最小ピッチ 60 µm
最大接触面積 105 mm x 105 mm
温度 -55°C...+180°C
室温での電流容量 1300 mA
推奨配送時の接触力 1,4 cN - 3,8 cN
-1dB 限界でのアナログ帯域幅 100 GHz
接触材料
接触材料 1 Gold
接触材料 2 Palladium
接触材料 3 Diverse
接触材料 4 Solder ball
接触材料 5 Aluminium
接触材料 6 Copper

プローブカードサービス

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