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Tests de semi-conducteurs (Test de Wafers)

LiProbe®

Lamella probes offer various advantages in terms of RF and force requirements. The short length of the probe as well as the flexible amount of lamellae makes it the perfect solution for sophisticated applications.

Données techniques

Spécifications
Pas minimum de l'échantillon 60 µm
Surface de contact max. 105 mm x 105 mm
Température -55°C...+180°C
Intensité maximale admissible à température ambiante 1300 mA
Force de contact pour une livraison recommandée 1,4 cN - 3,8 cN
Bande passante analogique à la limite -1 dB 100 GHz
Matériaux de contact
Matériau de contact 1 Gold
Matériau de contact 2 Palladium
Matériau de contact 3 Diverse
Matériau de contact 4 Solder ball
Matériau de contact 5 Aluminium
Matériau de contact 6 Copper

Service de cartes d'essai

Des solutions qui vont bien au-delà du produit. Découvrez ici notre service de cartes de test.

Service Cartes de Test FEINMETALL