Notre portefeuille
Des solutions flexibles à valeur ajoutée : nous proposons des solutions technologiques de pointe, y compris une assistance complète.
ViProbe® – la solution éprouvée de cartes de test verticales pour l'industrie des semi-conducteurs. Adaptable, polyvalente et particulièrement facile à entretenir grâce à sa simplicité de réparation, elle garantit des temps d'arrêt minimaux et des coûts réduits.
La ViProbe® II complète la ViProbe® éprouvée avec des options permettant de prolonger la durée de vie et d'améliorer la sécurité du DUT. La solution de carte de test verticale offre une fiabilité élevée, une excellente intégrité du signal et une protection optimale pour les tests de wafers exigeants.
Les contacts à lamelles LiProbe® (Lamellabeams) offrent des avantages exceptionnels pour les tests radiofréquence (RF) (MHz à GHz) et répondent aux exigences les plus élevées en matière de force et de précision. Leur conception compacte et le nombre flexible de lamelles garantissent une excellente qualité de signal et une grande fiabilité.
La FeinProbe® d'est spécialement conçue pour les tests WLCSP, SiP et flip chip. Le test de ces types de wafers nécessite des pointes de test FeinProbe® capables de résister à des courants élevés tout en garantissant une intégrité élevée du signal.
Service de cartes de test
Des solutions qui vont bien au-delà du produit. Découvrez ici notre service de cartes de test.
