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ViProbe® II Perspective 1

Tests de semi-conducteurs (Test de Wafers) ViProbe® II

ViProbe® II integrates proven ViProbe® technology with enhanced features for extended lifetime and wafer safety.

Données techniques

Spécifications
Pas minimum de l'échantillon 50 µm
Diamètre min. de l'élément de contact 1,6 mil
Surface de contact max. 105 mm x 105 mm
Température -55°C...+180°C
Intensité maximale admissible à température ambiante 800 mA
Force de contact pour une livraison recommandée 2,4 cN - 10 cN
Matériaux de contact
Matériau de contact 1 Gold
Matériau de contact 2 Palladium
Matériau de contact 3 Diverse
Matériau de contact 4 Solder ball
Matériau de contact 5 Aluminium
Matériau de contact 6 Copper

Service de cartes d'essai

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Service Cartes de Test FEINMETALL