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Tests de semi-conducteurs (Test de Wafers)

ViProbe® II

With multiple lifetime extension options and various security features for the wafer, the ViProbe®II brings all the advantages of the ViProbe® to the next level

Données techniques

Spécifications
Pas minimum de l'échantillon 50 µm
Diamètre min. de l'élément de contact 1,6 mil
Surface de contact max. 105 mm x 105 mm
Température -55°C...+180°C
Intensité maximale admissible à température ambiante 800 mA
Force de contact pour une livraison recommandée 2,4 cN - 10,8 cN
Matériaux de contact
Matériau de contact 1 Gold
Matériau de contact 2 Palladium
Matériau de contact 3 Diverse
Matériau de contact 4 Solder ball
Matériau de contact 5 Aluminium
Matériau de contact 6 Copper

Service de cartes d'essai

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Service Cartes de Test FEINMETALL