언어:
즐겨찾기 목록 ( 제품):
FeinProbe® Perspective 1

Semiconductor Testing (WLCSP) FeinProbe®

FeinProbe® combines spring contact pins with probe card technology for precise bump contacting on WLCSP, SiP, and flip-chip wafers.

기술 데이터 시트

기술 데이터

사양
테스트 대상의 최소 피치 150 µm
접촉 요소의 최소 직경 70 µm
최대 접촉 면적 80 mm x 80 mm
온도 -40°C...+150°C
상온에서의 전류 부하 능력 2100 mA
권장 배송 시 접촉력 4,5 cN - 15,1 cN
-1dB 한계에서의 아날로그 대역폭 100 GHz
접촉 재료
접촉 재료 1 Gold
접촉 재료 2 Solder ball
접촉 재료 3 Copper

테스트 카드 서비스

제품을 훨씬 뛰어넘는 솔루션. 당사의 프로브 카드 서비스에 대해 자세히 알아보세요.

FEINMETALL 프로브 카드 서비스