Données techniques
| Généralités | |
|---|---|
| Structure | Double Plunger Probe |
| Type/famille | FP-D |
| Pas (mm/mil) | 0,75 / 30 |
| Température | -45°C...+100°C |
| Définition complémentaire | NM |
| Dimensions | |
|---|---|
| Longueur totale (mm) | 5.9 |
| Hauteur hors tout (mm) | 0.8 |
| Diamètre du style de pointe (mm) | 0.3 |
| Diamètre du fût (mm) | 0.58 |
| Diamètre du style de pointe (mm) 2 | 0.3 |
| Matériaux et surfaces | |
|---|---|
| Style de pointe | 29 |
| Style de pointe 2 | 29 |
| Matériau du piston | Beryllium copper |
| Revêtement du piston | Rhodium |
| Matériau du fût | Bronze |
| Revêtement du fût | Rhodium |
| Matériau du ressort | Copper |
| Revêtement du ressort | Uncoated |
| Matériau du piston 2 | Beryllium copper |
| Revêtement du piston 2 | Rhodium |
| Spécifications mécaniques | |
|---|---|
| Précontrainte (cN) | 10 |
| Force du ressort (cN) | 50 |
| Course nominale (mm) | 0.5 |
| Course maximale (mm) | 0.7 |
| Précision de pointage +/- (mm) | 0.09 |
| Spécifications électriques | |
|---|---|
| Courant continu (A) | 3.5 |
| Résistance de contact typique (mΩ) | 50 |
Graphiques
Beschreibung des Produkts
The Fine Pitch Double Plunger Probe FP580D2929B030R050L059NM (item number 1016641) is designed for precise contacting where installation space is limited. Tip style 29 (4-point crown) targets FP580D2929B030R050L059NM at solder bumps and pads; Fine Pitch Probes are used, among other applications, in semiconductor final test, WLCSP solutions, MEMS and micro-PCB testing. In FP580D2929B030R050L059NM, the double-plunger design provides spring-loaded contacting on both sides and can compensate for mechanical tolerances in compact interfaces. Key design data includes pitch 0.75 mm / 30 mil, spring force 50 cN, continuous current 3.5 A.