Données techniques
| Généralités | |
|---|---|
| Structure | Double Plunger Probe |
| Type/famille | FP-D |
| Pas (mm/mil) | 0,30 / 12 |
| Température | -45°C...+120°C |
| Dimensions | |
|---|---|
| Longueur totale (mm) | 3.7 |
| Hauteur hors tout (mm) | 0.7 |
| Diamètre du style de pointe (mm) | 0.1 |
| Diamètre du fût (mm) | 0.2 |
| Diamètre du style de pointe (mm) 2 | 0.1 |
| Matériaux et surfaces | |
|---|---|
| Style de pointe | 29 |
| Style de pointe 2 | 01 |
| Matériau du piston | Beryllium copper |
| Revêtement du piston | Gold |
| Matériau du fût | Nickel |
| Revêtement du fût | Gold |
| Matériau du ressort | Spring steel |
| Revêtement du ressort | Gold |
| Matériau du piston 2 | Beryllium copper |
| Revêtement du piston 2 | Gold |
| Spécifications mécaniques | |
|---|---|
| Précontrainte (cN) | 7 |
| Force du ressort (cN) | 17 |
| Course nominale (mm) | 0.4 |
| Course maximale (mm) | 0.55 |
| Spécifications électriques | |
|---|---|
| Courant continu (A) | 0.8 |
| Résistance de contact typique (mΩ) | 100 |
| Fréquence (GHz) | 30 |
Graphiques
Beschreibung des Produkts
The Fine Pitch Double Plunger Probe FP200D2901B010G017L037 (item number 1023129) is designed for precise contacting where installation space is limited. Tip style 29 (4-point crown) targets FP200D2901B010G017L037 at solder bumps and pads; Fine Pitch Probes are used, among other applications, in semiconductor final test, WLCSP solutions, MEMS and micro-PCB testing. In FP200D2901B010G017L037, the double-plunger design provides spring-loaded contacting on both sides and can compensate for mechanical tolerances in compact interfaces. Key design data for FP200D2901B010G017L037 includes pitch 0.3 mm / 12 mil, spring force 17 cN, continuous current 0.8 A.