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Semiconductor Testing (Wafertest)

LiProbe®

Lamellenbeams bieten verschiedene Vorteile hinsichtlich HF- und Kraftbedarf. Die kurze Sondenlänge sowie die flexible Lamellenanzahl machen sie zur perfekten Lösung für anspruchsvolle Anwendungen.

Technische Daten

Spezifikationen
Min. Pitch des Prüflings 60 µm
Max. Kontaktfläche 105 mm x 105 mm
Temperatur -55°C...+180°C
Stromtragfähigkeit bei Raumtemperatur 1300 mA
Kontaktkraft bei empfohlener Zustellung 1,4 cN - 3,8 cN
Bandbreite analog bei -1dB-Grenze 100 GHz
Kontaktierungsmaterialien
Kontaktierungsmaterial 1 Gold
Kontaktierungsmaterial 2 Palladium
Kontaktierungsmaterial 3 Vielfältig
Kontaktierungsmaterial 4 Lötkugel
Kontaktierungsmaterial 5 Aluminium
Kontaktierungsmaterial 6 Kupfer

Probe Card Service

Lösungen, die weit über das Produkt hinausgehen. Hier mehr über unseren Probe Card Service erfahren.

FEINMETALL Prüfkarten Service