Unser Portfolio
Flexible Lösungen mit Mehrwert: Wir bieten führende technologische Lösungen inklusive ganzheitlichem Support.
ViProbe® – die bewährte vertikale Prüfkartenlösung für die Halbleiterindustrie. Anpassungsfähig, vielseitig einsetzbar und dank einfacher Reparatur besonders wartungsfreundlich – für minimale Ausfallzeiten und reduzierte Kosten.
Die ViProbe® II erweitert die bewährte ViProbe® um Optionen zur Lebensdauerverlängerung und verbesserten Sicherheit für das DUT. Die vertikale Prüfkartenlösung bietet hohe Zuverlässigkeit, ausgezeichnete Signalintegrität und optimalen Schutz bei anspruchsvollen Wafer-Tests.
LiProbe® Lamellenkontakte (Lamellabeams) bieten herausragende Vorteile bei Hochfrequenztests (MHz bis GHz) und erfüllen höchste Anforderungen an Kraft und Präzision. Ihre kurze Bauform und flexible Lamellenanzahl sorgen für exzellente Signalqualität und Zuverlässigkeit.
Die FeinProbe® ist speziell entwickelt für WLCSP-, SiP- und Flipchip-Tests. Das Testen dieser Wafer-Arten erfordert FeinProbe®-Federkontaktstifte, die hohen Strömen standhalten und gleichzeitig eine hohe Signalintegrität gewährleisten.
Probe Card Service
Lösungen, die weit über das Produkt hinausgehen. Hier mehr über unseren Probe Card Service erfahren.
