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Semiconductor Testing (Wafertest)

ViProbe®

Anpassbar an eine enorme Bandbreite an Anwendungen und Padmaterialien ist es seit vielen Jahren die vertikale Lösung auf dem Markt und wird besonders wegen seiner einzigartigen einfachen Reparierbarkeit geschätzt.

Technische Daten

Spezifikationen
Min. Pitch des Prüflings 56 µm
Min. Durchmesser des Kontaktelementes 1,6 mil
Max. Kontaktfläche 80 mm x 80 mm
Temperatur -55°C...+180°C
Stromtragfähigkeit bei Raumtemperatur 800 mA
Kontaktkraft bei empfohlener Zustellung 2,4 cN - 10,7 cN
Kontaktierungsmaterialien
Kontaktierungsmaterial 1 Gold
Kontaktierungsmaterial 2 Palladium
Kontaktierungsmaterial 3 Vielfältig
Kontaktierungsmaterial 4 Lötkugel
Kontaktierungsmaterial 5 Aluminium
Kontaktierungsmaterial 6 Kupfer

Probe Card Service

Lösungen, die weit über das Produkt hinausgehen. Hier mehr über unseren Probe Card Service erfahren.

FEINMETALL Prüfkarten Service