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ViProbe® II Perspective 1

Semiconductor Testing (Wafertest) ViProbe® II

ViProbe® II kombiniert die bewährte ViProbe®-Technologie mit erweiterten Optionen für Lebensdauer und Wafer-Sicherheit.

Technische Daten

Spezifikationen
Min. Pitch des Prüflings 50 µm
Min. Durchmesser des Kontaktelementes 1,6 mil
Max. Kontaktfläche 105 mm x 105 mm
Temperatur -55°C...+180°C
Stromtragfähigkeit bei Raumtemperatur 800 mA
Kontaktkraft bei empfohlener Zustellung 2,4 cN - 10 cN
Kontaktierungsmaterialien
Kontaktierungsmaterial 1 Gold
Kontaktierungsmaterial 2 Palladium
Kontaktierungsmaterial 3 Vielfältig
Kontaktierungsmaterial 4 Lötkugel
Kontaktierungsmaterial 5 Aluminium
Kontaktierungsmaterial 6 Kupfer

Probe Card Service

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FEINMETALL Prüfkarten Service