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F10017B150G200IK04 Perspective 1 F10017B150G200IK04 Perspective 2

Pines de Prueba de Contacto básicos (100 mil) F10017B150G200IK04

Número de artículo 1016969

Ficha técnica

Cantidad

Datos técnicos

General
Estructura Basic Contact Probe
Tipo/Familia F100
Paso (mm/mil) 2,54 / 100
Temperatura -45°C...+80°C
Definición adicional IK04
Dimensiones
Longitud total (mm) 33.7
Altura sobresaliente (mm) 8.4
Diámetro del estilo de punta (mm) 1.5
Diámetro del casquillo (mm) 1.37
Materiales y superficies
Estilo de punta 17
Material del émbolo Beryllium copper
Recubrimiento del émbolo Gold
Material del casquillo Bronze
Recubrimiento del casquillo Gold
Material del resorte Spring steel
Recubrimiento del resorte Silver
Especificaciones mecánicas
Precarga (cN) 80
Fuerza del resorte (cN) 200
Recorrido nominal (mm) 4.3
Recorrido máximo (mm) 6.4
Precisión de punteo +/- (mm) 0.08
Especificaciones eléctricas
Corriente continua (A) 5
Resistencia de contacto típica (mΩ) 20

Gráficos

F10017B150G200IK04 Resumen de receptáculos similares F10017B150G200IK04 Denominación de la familia F10017B150G200IK04 Estilo de punta 1

Beschreibung des Produkts

The Basic Contact Probe F10017B150G200IK04 (item number 1016969) is a spring-loaded probe for temporary electrical contact with test points. With tip style 17 (Flat stepped), F10017B150G200IK04 combines ICT/FCT use with a geometry intended for solder pads and contact pins. F10017B150G200IK04 combines a pitch of 2.54 mm / 100 mil with tip style 17 (Flat stepped) and a tip diameter of 1.5 mm. F10017B150G200IK04 operates with 200 cN spring force and 4.3 mm nominal travel. The electrical rating of F10017B150G200IK04 combines 5 A continuous current with 20 mΩ typical contact resistance. The plunger in F10017B150G200IK04 is made of beryllium copper and is gold-plated.