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DUT / 被試験体
被試験体（DUT）とは、試験プロセスにおいて検査の対象となる部品、アセンブリ、またはシステムを指します。品質、機能性、信頼性を確保するために、その電気的、機能的、または機械的特性が試験されます。被試験体は試験手順における中心的な基準点となり、定義された条件およびインターフェースの下で接続され、評価されます。
よくある質問
これはコンタクトプローブのたわみを決定し、それによってバネ圧、接触品質、およびライフタイムに影響を与えます。
すべての試験は、被試験体の品質と機能を保証するために、被試験体そのものに直接関連しています。
通常、コンタクトプローブ、検査治具、または専用の接点システムを介して行われます。
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