Unidad bajo prueba / candidato
La unidad bajo prueba, también denominada Device Under Test (DUT), es el componente, el conjunto o el sistema que se examina en el marco de un proceso de prueba. En ella se comprueban las propiedades eléctricas, funcionales o mecánicas para garantizar la calidad, la funcionalidad y la fiabilidad. Constituye el punto de referencia central en el proceso de prueba y se conecta y evalúa en condiciones e Interfaces definidas.
Preguntas frecuentes
Determina la flexión del Pin de Prueba de Contacto y, por lo tanto, influye en la Fuerza del resorte, la calidad del contacto y la Vida útil.
Todos los ensayos se refieren directamente al producto sometido a ensayo, con el fin de garantizar su calidad y funcionamiento.
Normalmente a través de pins de prueba de contacto, Adaptadores de prueba o sistemas de contacto específicos.
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