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F10054S157P200HP Perspective 1 F10054S157P200HP Perspective 2

일반 컨텍 프로브 (100 mil) F10054S157P200HP

품목 번호 1137813

기술 데이터 시트

수량

기술 데이터

일반 사항
구성 Basic Contact Probe
형태/계열 F100HP
거리(mm/mil) 2,54 / 100
온도 -45°C...+80°C
추가정의 HP
치수
전체 길이(mm) 33.3
돌출 높이 (mm) 8.4
팁 스타일 직경(mm) 1.57
배럴 직경(mm) 1.37
재료 및 표면
팁 스타일 54
플런저 소재 Steel
플런저 플레이팅 Progressive
배럴 소재 Bronze
배럴 플레이팅 Gold
스프링 소재 Spring steel
스프링 플레이팅 Silver
기계적 사양
예압력 (cN) 130
스프링포스(cN) 200
정격 트래블(mm) 4.3
맥시멈 트래블(mm) 6.4
포인팅 정확도+/- (mm) 0.08
전기적 사양
연속 전류(A) 5
일반적인 접촉 저항(mOhm) 40

그래픽

F10054S157P200HP 팁 스타일 1

Beschreibung des Produkts

The Basic Contact Probe F10054S157P200HP (item number 1137813) is a spring-loaded probe for temporary electrical contact with test points. F10054S157P200HP belongs to the basic probe range for ICT/FCT, where tip geometry, spring force and surface finish are matched to the target test point. The design combines a pitch of 2.54 mm / 100 mil with tip style 54 (Square lance stepped) and a tip diameter of 1.57 mm. For F10054S157P200HP, spring force is 200 cN at a nominal travel of 4.3 mm. The electrical rating of F10054S157P200HP combines 5 A continuous current with 40 mΩ typical contact resistance. The combination of P-Coating and HP spring preload makes F10054S157P200HP a version for contact points where residues or hard surface layers can make electrical contacting more demanding.