Dữ liệu kỹ thuật
| Thông tin chung | |
|---|---|
| Cấu trúc | Double Plunger Probe |
| Loại/dòng sản phẩm | FP-D |
| Bước (mm/mil) | 0,80 / 31 |
| Nhiệt độ | -45°C...+150°C |
| Định nghĩa bổ sung | NM |
| Kích thước | |
|---|---|
| Tổng chiều dài (mm) | 5.8 |
| Chiều cao nhô ra (mm) | 0.77 |
| Đường kính đầu mũi (mm) | 0.3 |
| Đường kính thân (mm) | 0.58 |
| Đường kính đầu mũi (mm) 2 | 0.3 |
| Vật liệu và bề mặt | |
|---|---|
| Kiểu đầu kim | 29 |
| Kiểu đầu kim 2 | 29 |
| Vật liệu pít-tông 2 | Beryllium copper |
| Mạ pít-tông | Gold |
| Vật liệu thân | Bronze |
| Mạ thân | Gold |
| Vật liệu lò xo | High-grade steel |
| Mạ lò xo | Gold |
| Vật liệu pít-tông 2 2 | Beryllium copper |
| Mạ pít-tông 2 | Gold |
| Thông số kỹ thuật cơ khí | |
|---|---|
| Lực căng trước (cN) | 30 |
| Lực lò xo (cN) | 60 |
| Hành trình danh định (mm) | 0.5 |
| Hành trình tối đa (mm) | 0.6 |
| Độ chính xác đầu mũi +/- (mm) | 0.09 |
| Thông số kỹ thuật điện | |
|---|---|
| Cường độ dòng điện liên tục (A) | 3.5 |
| Điện trở tiếp xúc điển hình (mOhm) | 60 |
Đồ họa
Beschreibung des Produkts
The Fine Pitch Double Plunger Probe FP580D2929B030G060L058NM (item number 1028445) is designed for precise contacting where installation space is limited. Tip style 29 (4-point crown) targets FP580D2929B030G060L058NM at solder bumps and pads; Fine Pitch Probes are used, among other applications, in semiconductor final test, WLCSP solutions, MEMS and micro-PCB testing. In FP580D2929B030G060L058NM, the double-plunger design provides spring-loaded contacting on both sides and can compensate for mechanical tolerances in compact interfaces. Key design data includes pitch 0.8 mm / 31 mil, spring force 60 cN, continuous current 3.5 A.