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F10017B150G100 Perspective 1 F10017B150G100 Perspective 2

Pines de Prueba de Contacto básicos (100 mil) F10017B150G100

Número de artículo 1000619

Ficha técnica

Cantidad

Datos técnicos

General
Estructura Basic Contact Probe
Tipo/Familia F100
Paso (mm/mil) 2,54 / 100
Temperatura -45°C...+80°C
Dimensiones
Longitud total (mm) 33.3
Altura sobresaliente (mm) 8.5
Diámetro del estilo de punta (mm) 1.5
Diámetro del casquillo (mm) 1.37
Materiales y superficies
Estilo de punta 17
Material del émbolo Beryllium copper
Recubrimiento del émbolo Gold
Material del casquillo Bronze
Recubrimiento del casquillo Gold
Material del resorte Spring steel
Recubrimiento del resorte Nickel
Especificaciones mecánicas
Precarga (cN) 40
Fuerza del resorte (cN) 100
Recorrido nominal (mm) 4.3
Recorrido máximo (mm) 6.4
Precisión de punteo +/- (mm) 0.08
Especificaciones eléctricas
Corriente continua (A) 5
Resistencia de contacto típica (mΩ) 20

Gráficos

F10017B150G100 Resumen de receptáculos similares F10017B150G100 Denominación de la familia F10017B150G100 Estilo de punta 1

Beschreibung des Produkts

The Basic Contact Probe F10017B150G100 (item number 1000619) is a spring-loaded probe for temporary electrical contact with test points. With tip style 17 (Flat stepped), F10017B150G100 combines ICT/FCT use with a geometry intended for solder pads and contact pins. F10017B150G100 combines a pitch of 2.54 mm / 100 mil with tip style 17 (Flat stepped) and a tip diameter of 1.5 mm. For F10017B150G100, spring force is 100 cN at a nominal travel of 4.3 mm. F10017B150G100 is rated for 5 A continuous current with a typical contact resistance of 20 mΩ. The plunger in F10017B150G100 is made of beryllium copper and is gold-plated.