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F77217B200G300H Perspective 1 F77217B200G300H Perspective 2

Pines de Prueba de Contacto básicos (100 mil) F77217B200G300H

Número de artículo 1125623

Ficha técnica

Cantidad

Datos técnicos

General
Estructura Basic Contact Probe
Tipo/Familia F772
Paso (mm/mil) 2,54 / 100
Temperatura -45°C...+100°C
Definición adicional H
Dimensiones
Longitud total (mm) 32
Altura sobresaliente (mm) 10
Diámetro del estilo de punta (mm) 2
Diámetro del casquillo (mm) 1.66
Diámetro del anillo de presión (mm) 2.05
Materiales y superficies
Estilo de punta 17
Material del émbolo Beryllium copper
Recubrimiento del émbolo Gold
Material del casquillo Nickel silver
Recubrimiento del casquillo Gold
Material del resorte High-grade steel
Recubrimiento del resorte Uncoated
Especificaciones mecánicas
Precarga (cN) 100
Fuerza del resorte (cN) 300
Recorrido nominal (mm) 4
Recorrido máximo (mm) 5
Precisión de punteo +/- (mm) 0.08
Especificaciones eléctricas
Corriente continua (A) 5
Resistencia de contacto típica (mΩ) 100

Gráficos

F77217B200G300H Denominación de la familia F77217B200G300H Estilo de punta 1

Beschreibung des Produkts

F77217B200G300H (item number 1125623) is a Basic Contact Probe for repeatable temporary connections between the test system and a test point. With tip style 17 (Flat stepped), F77217B200G300H combines ICT/FCT use with a geometry intended for solder pads and contact pins. F77217B200G300H combines a pitch of 2.54 mm / 100 mil with tip style 17 (Flat stepped) and a tip diameter of 2 mm. F77217B200G300H operates with 300 cN spring force and 4 mm nominal travel. F77217B200G300H is rated for 5 A continuous current with a typical contact resistance of 100 mΩ. The plunger in F77217B200G300H is made of beryllium copper and is gold-plated. As an H version, F77217B200G300H extends the operating range to high-temperature applications up to 200 °C.