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一种测试夹具,用于测试微芯片(半导体后端)和传感器等电子元件。插座内安装有微间距探针(微间距接触探针),可与这些元件的接触面精确接触,并建立可靠的电气连接。这可确保测试结果可重复,并在测试过程中实现安全的信号传输。

常见问题解答

微间距探针与元件的接触面精确接触,确保可靠的电气连接。

通常在后端工艺中对半导体、微芯片、传感器和其他电子元件进行测试。

测试夹具用于半导体行业、传感器技术、汽车电子和其他工业测试环境。

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FEINMETALL 团队