探针卡 始终如一的优质产品

ViProbe® ——半导体行业久经考验的垂直测试卡解决方案。适应性强、用途广泛，且易于维修，维护特别方便——最大限度地减少停机时间，降低成本。

ViProbe® II在久经考验的 ViProbe®基础上增加了延长使用寿命和提高 DUT 安全性的选项。垂直测试卡解决方案在苛刻的晶圆测试中提供高可靠性、出色的信号完整性和最佳保护。

LiProbe®片状触点（片状梁）在射频测试（MHz 至 GHz）中具有卓越的优势，并满足对力和精度的最高要求。其结构短小、片数灵活，可确保卓越的信号质量和可靠性。

FeinProbe® 专为WLCSP、SiP 和倒装芯片测试而设计 。测试这些类型的晶圆需要FeinProbe® 弹簧接触探针，该探针能够承受高电流，同时确保高信号完整性。