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微间距探针
微间距探针（微间距探针）是一种专为极小间距和高封装密度而设计的接触探针。它特别适用于微型电子元件（如半导体、传感器和微型PCB）的测试。 由于接触几何结构紧密，使用微间距探针需要对测试夹具进行特别精确的设计，同时需要精准的定位和极高的制造精度，以确保电气接触的可靠性和可重复性。
常见问题解答
微间距探针主要应用于高连接密度元件的测试系统。典型应用包括测试半导体、传感器和其他微型元件，由于间距较小，传统接触探针并不适合这些应用。
使用微间距探针需要对测试夹具进行特别精确的设计。为了确保可重复的测量结果，精确定位、均匀的弹力以及高机械和电气可靠性至关重要。
定期清洁和目视检查有助于及早发现接触问题。及时更换磨损的探针有助于保持测试质量的稳定。
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