词汇表

Aoi (自动光学检测)是一种基于摄像头的检测方法，用于在制造过程中对电路板和电子组件进行视觉质量控制。

AXI 可对隐藏的焊接点进行无损检测，例如 BGA 组件和复杂组件。

E-Mobility & Pogo Solutions 是 FEINMETALL 旗下一个商业单元，致力于为移动出行行业提供高度可靠的接触应用解决方案。

Electronic Testing 是 FEINMETALL 的一项商业单元，汇集了用于精确测试电子元件、组件和系统的解决方案。

用于在功能测试系统（FCT）中连接组件的弹簧接触探针，用于在运行条件下测试电气功能。

FEINMETALL 测试卡解决方案，带弹簧接触探针，可精确接触 WLCSP、SiP 和倒装芯片晶圆上的凸点。

Fine Pitch & Interface Solutions 是 FEINMETALL 旗下一个商业单元。它指的是针对非常小的网格和复杂界面的高精度接触解决方案领域。其重点在于为现代测试系统中的密集组件、敏感测试点和苛刻的电气要求提供可靠的接触方案。

FM Choice 是精选的、久经考验的 FEINMETALL 接触探针，可快速供货，性价比高。

在半导体行业中，封装 (芯片封装) 保护芯片，并通过 BGA 或 QFN 等定义的连接面实现电气接触。

用于飞针系统的可移动接触探针，可灵活测试单个测试点，无需固定针阵。

飞针测试：无需适配器，通过顺序接触各个测试点来对柔性电路板进行测试。

ICT 接触探针是用于在线测试（ICT）中与电路板测试点建立连接的弹簧接触探针。

FEINMETALL 测试卡解决方案，采用 MEMS 叶片触点，可进行精确的射频和高电流测试。

连接件是测试系统、测试夹具和被测物之间的机械和电气连接元件。它能够可靠地传输信号或电流，并确保机械稳定性。

检查连接器的通畅性、接触质量和安装牢固度。

防焊连接类型可防止焊锡渗入，确保接触元件的功能和使用寿命。

微型 PCB 是具有非常精细的导线和结构间距很小的电路板。它们用于高度集成的电子应用中，需要特别精确的测试和接触解决方案。

模块镀层：对块状部件进行表面精加工，以增强防腐蚀性、导电性和耐磨性。

Pogo Block 是一种机械接触块，装有许多弹簧接触探针（Pogo 针）。

带集成弹簧接触探针的插接连接器，可实现可靠、插拔式且重复性好的电气接触。

片状厚度描述了接触尖端铲形头型的宽度，并决定了与测试点接触面的大小。

该商业单元致力于开发晶圆、封装和模块测试解决方案，这些解决方案要求最高精度、信号完整性和重复性好。

在高频率下对组件进行测试，以评估信号质量和传输性能。

ViProbe®: FEINMETALL 的垂直测试卡解决方案，用于半导体行业中的精密晶圆测试。

ViProbe® II：垂直 FEINMETALL 测试卡解决方案，用于晶圆测试，具有高可靠性、增强的 DUT 安全性及提高使用寿命。

Wire Harness Testing 是 FEINMETALL 旗下一个商业单元，致力于提供线束精确测试的解决方案。

位置性测试：通过定义的接触来检查组件位置是否正确。

使用精密接触解决方案对具有精细结构的高集成电路板进行测试。

微间距探针或精细间距探针：意义、用途和技术相关性，用于可靠的测试和接触解决方案。

带集成防旋转装置的接触探针，用于在测试夹具中实现确定的方向和稳定的接触。

使用精密接触探针针对传感器的功能、精度和可靠性进行测试。

处理器 / 自动送料系统：半导体后端中的自动化系统，用于输送、定位、检查组件，并根据测试结果进行分类。

存在性测试是一种测试方法，用于确定组件、触点或插件是否存在且位置正确。

一种测试夹具，用于测试微芯片（半导体后端）和传感器等电子元件。插座内安装有微间距探针，与这些元件的接触面相接触。

测试系统中的机械和电气界面，用于通过接触探针实现测试对象的可重复接触。

内部/外部间距决定了接触点的密度，对紧凑型测试夹具至关重要。

功能测试（FCT）：在实际操作条件下检查电子组件功能的测试方法。

接触探针，用于安全传输高持续电流和脉冲电流，具有大接触面积、低的阻力和坚固结构等特点。

高电流测试是指在测试过程中，持续或脉冲电流以安全且恒定的方式传输。

用于低损耗和阻抗控制的高频信号传输的接触探针。

单元生产是电池制造中的一个关键步骤。在制造过程中，电池的充电和放电形成了其基本的电化学结构。

垫片是一种机械部件，用于在测试夹具、测试系统和接触解决方案中保持组件之间的固定距离。它用于精确确定安装高度、间距（间距）、接触探针、弹簧接触探针或组件的距离和位置。这样可以确保测试结构中接触的可重复性以及稳定的电气连接。

大弹力测试检查大推力探针或插头连接器中锁定机制的功能和可靠性。

带锁定机制的接触探针，用于在测试夹具中进行精确定位和安全固定。

大电流模块是测试装置的连接元件，可确保高电流的安全接触和测试。

在导通测试中，使用螺纹针和防转动针脚来可靠地检查开路、短路或接线错误。

将接触探针压向测试点所施加的力，该力会影响电气接触的质量。

弹簧接触探针中的机械功能元件，可产生弹力，并补偿测试夹具中的公差。

弹簧接触探针或弹簧接触探针由针头、弹簧和针管组成，可为 ICT、FCT 和大电流应用提供可重复的接触。其变体包括开关、开尔文和高频型号。

弹簧针塔是一个带接触探针的接触组件，用于在测试仪和界面之间建立电气连接。它可确保精确的信号传输。

弹簧接触探针上的弹簧镀层可确保防腐蚀、低摩擦和稳定的电气性能。

电池制造商需要精确的测试技术来确保质量和安全性。

电池单元测试建立安全的电气接触。

电动汽车和能源存储电池测试：测试特性值、热性能、安全性和使用寿命。

触点或连接件能够持续承载的最大电流，且不会产生过热现象。

电路板测试可确保电路板的功能和电气特性。

采用ICT和FCT的电路板测试（PCB测试），用于检测功能、布线和信号质量。精密测试针和革新系列确保最高水平的工艺可靠性。

涂层可提高导电性、耐磨性和接触可靠性。

压接式连接是一种通过金属压接区域围绕导体进行塑性变形而形成的形状和力锁定的电气连接。这是工业测试技术中的一个专业术语，用于自动化测试过程中。

接触探针采用盘形几何结构，可实现明确且大面积的电气接触。

太阳能晶圆测试，采用专门的母线接触，可获得精确的测量值、低电阻和长使用寿命。

接触探针接触尖端的几何形状，影响接触性能、插入深度和磨损。

探针卡是测试系统中的一个接触单元，用于在测试系统和被测物之间传输电信号。

在线测试（ICT）：通过定义的测试点对电路板上的元件值和连接进行测试的电气测试方法。

最终测试是确认产品功能、质量和符合规格要求的最后测试步骤。

接触探针的活塞涂层可降低接触电阻和磨损，并延长使用寿命和可靠性。

弹簧接触探针的可动部件，通过弹力压在测试点上，形成电气接触。

接触探针的头型镀层决定了接触点的接触性能。

针套是一种机械部件，用于在测试夹具或接触系统中引导、容纳或隔离接触探针。它可确保接触探针的精确定位，并有助于整个接触系统的机械稳定性和可靠运行。

接触探针的外壳，引导针头和弹簧，确保机械稳定性和规定的电气特性。

外壳涂层可保护接触探针并稳定电气特性。

带开关式接触功能的接触探针，可同时进行接触和状态或存在检测。

开尔文针脚是一种用于四线测量（开尔文测量（四线制））的特殊接触探针，在这种测量中，电流线和电压线是分开的。

用于测试系统、测试夹具和测试对象之间稳定、持久连接的技术概念。

接触探针的前部，与测试点建立电接触，对接触质量有重要影响。

接触探针与测试点之间的接触点处的电阻，该电阻会影响电气连接的质量。

晶圆测试是指直接在晶圆上对半导体结构进行电气测试。

界面是指测试系统、测试夹具和被测物之间的定义界面。它建立机械和电气连接，并确保信号和电流传输的可重复性。

间距是电气测试和接触技术中的一个技术术语。它在工业测试领域得到应用，用于明确定义组件、接触参数或测试特征，是可靠且可重复的测试流程的一个关键标准。

标准探针是测试技术中模块化接触解决方案的基础。

标准螺纹探针可实现测试夹具中牢固且可更换的接触。

根据 IEEE-1149 标准，在无法直接访问测试点的情况下对电路板连接进行测试的数字测试方法。

汽车电子测试是指对用于车辆中的电子组件和系统进行测试。

汽车行业要求最高质量、最高安全性和最可靠的检测技术。

球栅阵列封装是指具有球栅阵列连接的组件的电气接触，其接触面以焊球的形式位于组件底部。由于网格尺寸非常精细，这种接触需要高精度的微间距接触探针、精确的对准和可重复的弹力，才能获得可靠的测量结果。