词汇表

ACIR测量用于测定电池单元的交流内阻，对接触稳定性及可重复的测量条件提出了较高要求。

Aoi (自动光学检测)是一种基于摄像头的检测方法，用于在制造过程中对电路板和电子组件进行视觉质量控制。

AXI 可对隐藏的焊接点进行无损检测，例如 BGA 组件和复杂组件。

安装高度是指接触探针或元件从插座、针套或测试夹具中伸出的距离。这是测试系统中正确接触的关键参数，因为它决定了可用的弹簧行程，并确保在不造成机械过载的情况下建立可靠的电气连接。

DCIR测量用于测定电池单元的直流内阻，对接触、测量精度和可重复性提出了较高要求。

典型接触电阻：用于评估测试技术中接触连接电气电阻的参考值，以评估接触质量。

单元生产是电池制造中的一个关键步骤。在制造过程中，电池的充电和放电形成了其基本的电化学结构。

垫片是一种机械部件，用于在测试夹具、测试系统和接触解决方案中保持组件之间的固定距离。它用于精确确定安装高度、间距（间距）、接触探针、弹簧接触探针或组件的距离和位置。这样可以确保测试结构中接触的可重复性以及稳定的电气连接。

大弹力测试检查大推力探针或插头连接器中锁定机制的功能和可靠性。

带锁定机制的接触探针，用于在测试夹具中进行精确定位和安全固定。

大电流模块是测试装置的连接元件，可确保高电流的安全接触和测试。

接触探针与测试点之间的定位精度，以确保可靠的接触。

导通测试用于检查两个点之间是否存在电气连接。该测试用于检测导线、电缆或组件中的断路。典型应用包括在生产过程中对印刷电路板、线束和连接器的检测。

弹簧式接触探针是一种电子元件，用于以恒定的接觸力和高重复性实现测试点的可靠电气连接。

弹簧产生的机械力，它决定了压紧力和接触质量。

弹簧接触探针中的机械功能元件，可产生弹力，并补偿测试夹具中的公差。

弹力测量仪用于测量接触探针的弹力，以确保质量和功能的稳定性。

弹簧接触探针或弹簧接触探针由针头、弹簧和针管组成，可为 ICT、FCT 和大电流应用提供可重复的接触。其变体包括开关、开尔文和高频型号。

弹簧辅助开启：一种机械功能，通过弹簧辅助实现组件的可控且符合人体工学的开启。

弹簧针塔是一个带接触探针的接触组件，用于在测试仪和界面之间建立电气连接。它可确保精确的信号传输。

弹簧接触探针上的弹簧镀层可确保防腐蚀、低摩擦和稳定的电气性能。

待测体（也称为Device Under Test，简称DUT）是指在测试过程中接受检测的元件、组件或系统。

电动汽车涵盖电动车辆和系统，以及支持可持续出行的相关基础设施。

电子工业涵盖对精度和微型化要求极高的电子元件及系统的开发、制造和测试。

“接触”是指在测试系统内，有针对性地建立弹簧接触探针与电路板测试点之间的电气连接。

电池制造商需要精确的测试技术来确保质量和安全性。

电池单元测试建立安全的电气接触。

电动汽车和能源存储电池测试：测试特性值、热性能、安全性和使用寿命。

触点或连接件能够持续承载的最大电流，且不会产生过热现象。

电路板承载板：测试夹具中的机械承载板，用于精确定位和稳固引导被测对象。

电路板测试包括对已装配或未装配的电路板进行电气测试，以检测断路、短路或元件故障等缺陷。在此过程中，会使用带接触探针的测试夹具与电路板上的指定测试点接触。典型的测试方法包括在线测试（ICT）、飞针测试和功能测试。

采用ICT和FCT的电路板测试（PCB测试），用于检测功能、布线和信号质量。精密测试针和革新系列确保最高水平的工艺可靠性。

安装工具可实现接触探针的精确安装，确保在测试适配器制造过程中力传递均匀且定位可重复。

安装校准工具用于在测试装置中精确定位接触探针和被测件，并确保接触的可重复性和可靠性。

短行程探针是一种弹簧行程较小的弹簧接触探针，适用于紧凑型应用和精确的触点运动。

涂层可提高导电性、耐磨性和接触可靠性。

顶部装载设计允许从上方装入和取出可更换卡匣，并支持在测试夹具中快速进行卡匣更换。

E-Mobility & Pogo Solutions 是 FEINMETALL 旗下一个商业单元，致力于为移动出行行业提供高度可靠的接触应用解决方案。

Electronic Testing 是 FEINMETALL 的一项商业单元，汇集了用于精确测试电子元件、组件和系统的解决方案。

ESD防护：在生产、测试和操作过程中，为保护敏感电子设备免受静电放电影响而采取的措施。

用于功能测试系统（FCT）中组件连接的弹簧接触探针，用于在运行条件下测试电气功能。

FEINMETALL 测试卡解决方案，带弹簧接触探针，可精确接触 WLCSP、SiP 和倒装芯片晶圆上的凸点。

Fine Pitch & Interface Solutions 是 FEINMETALL 旗下的一家商业单元，专注于为具有极小间距和对信号质量要求极高的应用提供接触解决方案。该单元主要致力于开发和制造用于半导体和电子测试的接触探针及接口解决方案。

FM Choice 是精选的、久经考验的 FEINMETALL 接触探针，可快速供货，性价比高。

Fréquence décrit le nombre de cycles par seconde d'un signal électrique, unité : hertz (Hz).

在半导体行业中，封装 (芯片封装) 保护芯片，并通过 BGA 或 QFN 等定义的连接面实现电气接触。

方口扳手是一种用于安全拧紧和松开螺栓连接的工具，在测试技术中用于安装测试夹具。

浮动压持板：安装在测试夹具中、可自由移动的板，用于固定被测件并补偿微小公差。

浮动压板是一种可移动的压板，用于在测试夹具中实现受控接触。

浮动设计是指一种可移动的结构，用于补偿测试夹具中的公差和对准偏差。

防夹保护：一种安全功能，用于防止手指、电缆或部件被夹在活动部件之间。

用于飞针系统的可移动接触探针，可灵活测试单个测试点，无需固定针阵。

飞针测试是一种用于印刷电路板的电气测试方法，其中可移动的测试探针（“Probes”）会自动接触不同的测试点。与测试夹具不同，该方法无需固定的针座，因此对于小批量生产和原型制作而言，这种测试方式具有极高的灵活性和成本效益。

H-MTD® 连接器是一种紧凑型高频连接器，适用于汽车和高速应用中的差分信号。

化学镀镍浸金表面处理是一种在印刷电路板上涂覆镍层并镀金层的技术，旨在提高可焊性、确保表面平整以及实现可靠的接触。

回波损耗描述了由阻抗失配引起的信号反射，是衡量信号质量的重要指标。

混合装配：在测试夹具中组合不同的模块或功能元件，以实现灵活的接口配置。

焊接式连接是指通过焊接制成的电气连接，可确保电子连接的可靠性和稳定性。

焊盘（或称键合垫）是指芯片或印刷电路板上用于电气连接、接触和测试的金属接触面。

ICT 接触探针是用于在线测试（ICT）中与电路板测试点建立连接的弹簧接触探针。

FEINMETALL 测试卡解决方案，采用 MEMS 叶片触点，可进行精确的射频和高电流测试。

产品系列中具有明确技术特性的特定产品变体。

螺纹式结构是一种用于可拆卸连接部件的螺旋形结构，在接触技术中用于将螺纹针牢固地固定在针套内。

螺纹节距定义了每转一圈的轴向行程，并影响螺纹针在针套中的精确定位和安装深度。

连接件是测试系统、测试夹具和被测物之间的机械和电气连接元件。它能够可靠地传输信号或电流，并确保机械稳定性。

检查连接器的通畅性、接触质量和安装牢固度。

防焊连接类型可防止焊锡渗入，确保接触元件的功能和使用寿命。

连接针套将导向和绝缘功能整合于单一组件中，可提供紧凑且集成的接触解决方案。

领圈直径决定了接触探针或插座的尺寸，这对在测试夹具中的定位、安装深度和支撑起着决定性作用。

接触探针高度定义了测试夹具中接触探针或针套的轴向位置，这对实现精确且稳定的接触至关重要。

微型 PCB 是具有非常精细的导线和结构间距很小的电路板。它们用于高度集成的电子应用中，需要特别精确的测试和接触解决方案。

模块镀层：对块状部件进行表面精加工，以增强防腐蚀性、导电性和耐磨性。

盲模块：测试夹具中用于覆盖或固定未使用接口区域的机械占位器。

脉冲电流是指一种高电流强度的短时电流脉冲，用于在动态载荷下测试元器件。

PCB制造涵盖了印刷电路板的所有生产工艺，对电子组件的质量和功能至关重要。

Pogo Block 是一种机械接触块，装有许多弹簧接触探针（Pogo 针）。

带集成弹簧接触探针的插接连接器，可实现可靠、插拔式且重复性好的电气接触。

FEINMETALL Product Finder：一款基于技术参数和特定测试要求，用于精确选择接触探针的数字工具。

片状厚度描述了接触尖端铲形头型的宽度，并决定了与测试点接触面的大小。

片状直径描述了接触探针接触尖端头型结构的有效直径。它是与测试点配合的重要参数，会影响接触质量、接触面积以及连接的电气和机械稳定性。合理的设计可确保接触的可靠性和可重复性。

片状高度指接触探针尖端处片状接触区域的长度。它影响安装位置、有效接触面积以及接触探针接触测试点时的接触性能。合适的片状高度有助于实现稳定且可重复的电气接触。

该商业单元致力于开发晶圆、封装和模块测试解决方案，这些解决方案要求最高精度、信号完整性和重复性好。

使用寿命描述了可靠接触的次数，这对测试系统的设计和经济性至关重要。

双头探针是一种具有两个行程区域的弹簧接触探针，用于在测试装置中结合接触和开关式功能。

射频是指频率较高的电信号，在测试技术中对连接、阻抗和信号完整性提出了特殊要求。

射频测试用于检测 MHz 至 GHz 频段内电信号的行为。在此过程中，将分析阻抗、信号损耗和反射等参数，以确保信号完整性。

散射参数描述了射频网络的传输特性，用于分析反射和信号损耗。

線束測試用於檢查線束的通斷性、布線、绝缘和接觸情況，以確保電氣連接的可靠性。

TCO 指产品或系统在整个生命周期内的总成本，包括购置、运营和维护费用。

接触探针采用盘形几何结构，可实现明确且大面积的电气接触。

同轴探针用于以规定阻抗传输高频信号。

同轴针套用于引导和屏蔽内导体，并能以规定的阻抗实现低干扰的信号传输。

太阳能晶圆测试，采用专门的母线接触，可获得精确的测量值、低电阻和长使用寿命。

太阳能行业涵盖利用阳光发电的组件研发与制造，对性能、可靠性和使用寿命提出了极高要求。

接触探针接触尖端的几何形状，影响接触性能、插入深度和磨损。

探针卡是测试系统中的一个接触单元，用于在测试系统和被测物之间传输电信号。

推荐弹簧行程描述了弹簧接触探针的工作范围，在此范围内可确保接触可靠且可重复。

通信是指通过电信号或光信号传输信息，对信号质量和可靠性提出了很高的要求。

ViProbe®: FEINMETALL 的垂直测试卡解决方案，用于半导体行业中的精密晶圆测试。

ViProbe® II：垂直 FEINMETALL 测试卡解决方案，用于晶圆测试，具有高可靠性、增强的 DUT 安全性及提高使用寿命。

Wire Harness Testing 是 FEINMETALL 旗下一个商业单元，致力于提供线束精确测试的解决方案。

位置性测试：通过定义的接触来检查组件位置是否正确。

外径定义了部件的外尺寸，对于其在测试夹具中的安装、导向和固定至关重要。

使用精密接触解决方案对具有精细结构的高集成电路板进行测试。

微间距探针是一种用于连接印刷电路板或半导体上间距（间距）非常小的焊盘的接触探针。它能够对高度集成的元件进行精确的电气测试，在这些元件中，由于间距过小，标准接触探针已无法使用。典型应用包括晶圆测试、集成电路测试和高密度印刷电路板测试。

无损应用程序描述了在测试技术之外使用接触探针建立永久性电气连接的情况。

无需工具即可访问承载板，从而无需额外工具即可访问测试夹具中的接触探针、针套和连接组件。

温度 [C°]（以摄氏度（°C）为单位）是一项关键的环境和运行参数，它会影响元器件、接触探针和接触系统的电气及机械性能。它对接触电阻、材料膨胀、弹力以及信号传输等方面均有影响。在测试技术中，会针对性地进行温度测试，以确保产品在实际使用条件下的功能和可靠性。

中介层 / 中介板是一种用于连接电路板的接口模块，可实现与弹簧接触探针的紧凑、高密度连接。

在线测试（In-Circuit-Test）是一种用于检测印刷电路板上单个元件和连接的电气测试方法。在此过程中，电阻、电容和短路等参数直接在测试点上进行测量。该方法可在生产过程中快速定位故障。

接触探针或部件的总长度，与安装、插入深度以及在测试夹具中的机械集成相关。

最大弹簧行程（最大行程）是指弹簧接触探针在不发生机械过载或损坏的情况下所能达到的最大行程。

最终测试是电子产品在生产结束时进行的最终功能测试。该测试旨在验证产品在实际运行条件下能否正常工作。它是发货前的最后一道质量控制环节，旨在确保产品满足所有要求。

接触探针的活塞涂层可降低接触电阻和磨损，并延长使用寿命和可靠性。

照明行业涵盖照明系统的研发与制造，对功能、使用寿命和可靠性提出了极高要求。

终端测试是产品发货前确保其功能、质量和安全性的最后一道检测环节。

弹簧接触探针的可动部件，通过弹力压在测试点上，形成电气接触。

针头直径指接触探针的直径（单位为mm），它影响配合度、接触面积和机械稳定性。

头型直径决定了接触探针的接触尖端尺寸，并影响接触面积、受力分布和接触质量。

针头突出高度指接触探针的轴向长度（单位为mm），它会影响安装、弹簧行程和机械集成。

接触探针的头型镀层决定了接触点的接触性能。

针套是一种机械部件，用于在测试夹具或接触系统中引导、容纳或隔离接触探针。它可确保接触探针的精确定位，并有助于整个接触系统的机械稳定性和可靠运行。

针床夹具是一种测试夹具，用于同时接触多个测试点，从而实现高效的批量测试。

接触探针的外壳，引导针头和弹簧，确保机械稳定性和规定的电气特性。

套管直径指接触针套管的外径，对套管在针套中的配合、导向和可互换性至关重要。

外壳涂层可保护接触探针并稳定电气特性。

针脚承载板：测试夹具中用于安装和精确定位接触探针或针套的机械板。

阻抗描述了电气连接的复数交流阻抗，由欧姆电阻、电感和电容组成。它对测试和连接系统中的信号传输产生重大影响，特别是在射频和高速应用中，并且对于实现低损耗、无干扰的信号传输至关重要。

阻焊层是一种绝缘涂层，用于界定焊接区域并保护导线。

带集成防旋转装置的接触探针，用于在测试夹具中实现确定的方向和稳定的接触。

使用精密接触探针针对传感器的功能、精度和可靠性进行测试。

能源存储系统用于存储电能，对测试和连接提出了很高的要求。

处理器 / 自动送料系统：半导体后端中的自动化系统，用于输送、定位、检查组件，并根据测试结果进行分类。

存在性测试是一种测试方法，用于确定组件、触点或插件是否存在且位置正确。

承载板是测试夹具中的一种机械基础元件，用于安装和精确定位接触元件。

承载板访问可方便地接触测试夹具中的接触探针和针套，以便进行维护、检查和更换。

插入损耗描述了信号线中接触件或连接元件对信号造成的衰减。

一种测试夹具，用于测试微芯片（半导体后端）和传感器等电子元件。插座内安装有微间距探针，与这些元件的接触面相接触。

插销用于安全地封堵适配器或系统中的开口。

测试仪是一种利用探针卡对晶圆进行电气测试的检测系统。

测试夹具是一种在测试过程中用于与印刷电路板或电子组件建立电气连接的装置。它包含接触探针，这些接触探针与预定义的测试点接触，从而实现测量。测试夹具应用于自动化测试系统，特别是在在线测试和功能测试中。

测试点是指印制电路板或元器件上用于进行电气测试的指定测量点。

车制造中涵盖车辆及其零部件的研发与生产，对质量、安全性和可靠性有着极高的要求。

长行程探针是一种具有较大弹簧行程的弹簧接触探针，用于补偿公差，并在表面不平整的情况下确保可靠的接触。

信号完整性描述了电信号的质量，对可靠的传输和精确的测量结果至关重要。

信号模块：测试夹具中用于结构化引导和向接口组件传输电信号的组件。

旋入工具可实现对接触探针和针套的受控压入，确保在测试适配器制造过程中实现精确且可重复的装配。

消费电子产品涵盖用于个人使用的电子设备，对其功能、安全性和可靠性提出了较高要求。

线性行程：测试系统内沿直线方向的行程运动，用于实现受控接触并确保测试结果的可重复性。

行程 / 工作行程是指接触探针在起始位置和终点位置之间的移动。

内部/外部间距决定了接触点的密度，对紧凑型测试夹具至关重要。

拧紧工具用于以规定的扭矩精确、可控地安装螺纹针和螺钉式接触元件。

刚针是一种不带弹簧机构的接触探针。当无需补偿公差且需要建立固定、明确的电气连接时，它被用于测试夹具或接触系统中。刚针通常用于信号传输、电流传输，或作为测试应用中的机械接触元件。

功能测试（FCT）：在实际操作条件下检查电子组件功能的测试方法。

勾状扳手是一种用于安全安装和调整带槽或环形几何结构的部件的工具，可实现无损伤的力传递。

工具尺寸以mm为单位描述工具或紧固件的尺寸，对选择合适的工具至关重要。

工具种类描述了工具的形状，并影响动力传递以及合适装配工具的选择。

更换系统：一种用于快速更换测试夹具中的适配器单元或卡匣的解决方案，可实现灵活且可重复的测试流程。

杠杆锁定：测试夹具中的机械锁定机构，用于确保安全进行卡匣更换并实现受控操作。

革新系列包含用于与受污染测试点建立可靠接触的接触探针，其头型经过优化，可提高首次通过率并延长使用寿命。

高电流探针是一种专门用于传输大电流的接触探针。它具有更大的接触面积和经过优化的材料，以最大限度地减少发热和阻力的阻力。

高电流测试是指在测试过程中，持续或脉冲电流以安全且恒定的方式传输。

高速测试是对高速信号和界面进行的测试，旨在评估信号波形、时序和传输质量。

用于低损耗和阻抗控制的高频信号传输的接触探针。

医疗技术涵盖医疗设备的研发、制造和检测，对精度、可靠性和工艺安全性有着极高的要求。

压环直径决定了接触探针的过盈配合，并影响其固定性、装配力和机械稳定性。

压持板：测试夹具中的机械板，用于在接触过程中牢固地固定被测对象。

压接式连接是一种通过金属压接区域围绕导体进行塑性变形而形成的形状和力锁定的电气连接。这是工业测试技术中的一个专业术语，用于自动化测试过程中。

压板将测试夹具中的接触力传递出去，并有助于被测设备实现均匀、可靠的接触。

盘状接触面的直径，用于影响弹力和接触面积。

有机保焊膜是一种涂覆在印刷电路板上的有机保护层，它能确保可焊性，并对测试技术中的接触连接提出了特殊要求。

氧化层是金属表面上的一层薄层，会影响接触性能和导电性。

运输锁：一种机械保护措施，用于在运输和储存过程中固定易损或可移动的部件。

预应力是指在实际受力之前，有针对性地施加在构件或系统上的机械力。

半导体行业涵盖半导体的研发、制造和测试，对精度和测试技术提出了极高的要求。

摆动针可实现侧向偏转，并能改善在倾斜或不平整表面上的接触效果。

标准探针是测试技术中模块化接触解决方案的基础。

标准螺纹探针可实现测试夹具中牢固且可更换的接触。

根据 IEEE-1149 标准，在无法直接访问测试点的情况下对电路板连接进行测试的数字测试方法。

卡三点是一种专用工具，用于安装和调整具有三点定位结构的部件，并能实现均匀的受力分布。

卡匣更换：在测试夹具中更换可更换卡匣，以便快速适应不同的被测对象或测试要求。

可更换卡匣是一种可互换的适配器单元，用于快速改装测试系统，并实现对不同被测对象的可重复接触。

开关式描述了开关或开关针在操作过程中的电气特性。

开关种类描述了开关或开关针的工作原理和结构。

开关行程是指开关针移动至触发开关动作所需的距离。

带开关式接触功能的接触探针，可同时进行接触和状态或存在检测。

开启角度：指在测试夹具中打开组件以接触被测设备、卡匣或组件时所形成的角度。

开尔文测量（四线制）是一种测量方法，用于精确测定微小电阻，并最大限度地减少接触电阻和线路电阻的影响。

开尔文针脚是一种用于四线制测量的接触探针，在该测量方式中，电流和电压通过独立线路传输。这有助于最大限度地减少测量误差，并实现高精度的电阻测量。

快速更换卡匣是一种可更换的适配器单元，用于快速更换卡匣、缩短准备时间并确保接触条件的一致性。

夹具系列包括适用于自动化测试系统的测试夹具和可更换卡匣，采用模块化设计，并具备可重复的接触性能。

接口模块：测试夹具中的接口组件，用于连接和传输电气、气动或机械连接。

用于测试系统、测试夹具和测试对象之间稳定、持久连接的技术概念。

接触探针（也称为弹簧接触探针）是电子测试中用于建立临时电气连接的核心组件。它们能够确保测试系统与电路板上的测试点之间建立可靠的接触，并广泛应用于ICT、FCT和飞针测试等场景。 多种结构形式、弹力及触点几何形状，使得在测试夹具和测试系统中能够根据具体应用进行定制化设计。

接触探针的前部，与测试点建立电接触，对接触质量有重要影响。

接触探针与测试点之间的接触点处的电阻，该电阻会影响电气连接的质量。

接触解决方案可确保测试系统与被测对象之间建立可靠的电气连接。

接触距离指两个触点之间的距离，对绝缘和防短路性能至关重要。

将接触探针压向测试点的力，该力会影响电气接触的质量。

晶圆测试是半导体制造过程中的早期检测步骤，在此步骤中，直接对晶圆上的各个芯片进行电气测试。该过程使用特殊的测试触点，在将芯片分离出来之前对其功能进行检测。这样可以及早剔除有缺陷的器件。

机架：测试夹具中用于承载、固定和定位组件及元件的承重基础结构。

机械夹具：用于在测试系统中精确夹持、定位和引导被测件或组件的结构界面。

检测器用于检测弹簧接触探针的灵活性，并能及早发现卡滞或动作迟缓的组件。

界面是指两个系统或组件之间的连接，用于传输信号或数据。在电子测试中，它实现了测试系统、测试夹具和被测设备之间的连接。对于稳定可靠的信号传输而言，界面至关重要。

界面针用于连接测试夹具和测试系统，确保信号和电流的可靠传输。

绝缘针套用于对接触探针进行电气绝缘，并确保导电元件之间保持安全距离。

间距指印刷电路板或电子元件上两个相邻接触点之间的距离。该参数通常以毫米或微米为单位表示，是选择合适的接触探针和测试夹具时的一个关键参数。较小的间距需要特别精确的接触解决方案，并对测试技术提出了较高要求。

强制居中：用于在测试夹具中自动对齐可更换卡匣或界面机械导向装置。

强制居中接口：测试夹具中用于精确对准卡匣或适配器单元的机械导向连接。

气动模块：测试夹具中的组件，用于对用于气动功能的压缩空气进行有序引导和分配。

汽车电子测试是指对用于车辆中的电子组件和系统进行测试。

汽车行业要求最高质量、最高安全性和最可靠的检测技术。

球栅阵列封装是指与球栅阵列 (BGA) 元件进行电气接触的过程，此类元件的引脚以焊球形式位于元件底部。测试时使用特殊的接触探针，这些接触探针能精确接触这些焊点。其挑战在于封装密度高且接触点的可达性受限。

热管理包括用于控制和散热的措施，以确保稳定且安全的运行和测试条件。

绕线柱是一种用于测试夹具和界面接口中结构化布线的连接引脚。