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Nadelfeldadapter

Ein Nadelfeldadapter ist ein Prüfadapter mit einer Vielzahl von Kontaktstiften zur gleichzeitigen Kontaktierung vieler Testpunkte.

Er ermöglicht die parallele Prüfung komplexer Baugruppen und wird vor allem in In-Circuit-Tests und Serienprüfungen eingesetzt.

Durch die hohe Kontaktdichte trägt er zu effizienten, schnellen und reproduzierbaren Prüfergebnissen bei.

FAQ

Er wird für In-Circuit-Tests und Serienprüfungen elektronischer Baugruppen verwendet.

Er ermöglicht schnelle, parallele Prüfungen mit hoher Wiederholgenauigkeit.

Ein Nadelfeldadapter (ICT) kontaktiert alle Testpunkte gleichzeitig über fest positionierte Kontaktstifte, während bei der Flying-Probe-Technologie bewegliche Prüfspitzen die Testpunkte nacheinander kontaktieren.

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