In-Circuit-Test (ICT)
Der In-Circuit-Test (ICT) ist ein elektrisches Prüfverfahren zur Elektronikprüfung von Leiterplatten (PCB). Dabei werden einzelne Komponenten wie Widerstände, Kondensatoren oder integrierte Schaltungen direkt im eingebauten Zustand gemessen. Typische Fehler wie Kurzschlüsse, Unterbrechungen oder falsche Bauteilwerte können so frühzeitig erkannt werden.
Die Kontaktierung erfolgt über Prüfadapter mit Federkontaktstiften oder ICT-Kontaktstiften, die definierte Testpunkte auf der Leiterplatte kontaktieren.
Der In-Circuit-Test ist ein zentraler Bestandteil der Serienfertigung und wird häufig mit weiteren Prüfverfahren wie dem Funktionstest kombiniert.
FAQ
Bauteilwerte, Kurzschlüsse, offene Verbindungen, Polaritäten sowie grundlegende elektrische Eigenschaften einzelner Schaltungsteile.
Der ICT prüft einzelne Schaltungsbereiche und Bauteilwerte, während der Funktionstest die gesamte Baugruppe unter realen Betriebsbedingungen überprüft.
Der ICT wird meist nach dem Bestücken und Löten der Leiterplatte eingesetzt, um Fehler frühzeitig vor dem Funktionstest zu erkennen.
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