Données techniques
| Généralités | |
|---|---|
| Structure | Double Plunger Probe |
| Type/famille | FP-D |
| Pas (mm/mil) | 0,80 / 31 |
| Température | -45°C...+150°C |
| Dimensions | |
|---|---|
| Longueur totale (mm) | 8.7 |
| Hauteur hors tout (mm) | 1.5 |
| Diamètre du style de pointe (mm) | 0.38 |
| Diamètre du fût (mm) | 0.59 |
| Diamètre du style de pointe (mm) 2 | 0.3 |
| Matériaux et surfaces | |
|---|---|
| Style de pointe | 29 |
| Style de pointe 2 | 03 |
| Matériau du piston | Steel |
| Revêtement du piston | Gold |
| Matériau du fût | Bronze |
| Revêtement du fût | Gold |
| Matériau du ressort | High-grade steel |
| Revêtement du ressort | Gold |
| Matériau du piston 2 | Steel |
| Revêtement du piston 2 | Gold |
| Spécifications mécaniques | |
|---|---|
| Précontrainte (cN) | 10 |
| Force du ressort (cN) | 35 |
| Course nominale (mm) | 0.75 |
| Course maximale (mm) | 1 |
| Spécifications électriques | |
|---|---|
| Courant continu (A) | 2.5 |
| Fréquence (GHz) | 10.6 |
Graphiques
Beschreibung des Produkts
The Fine Pitch Double Plunger Probe FP590D2903S038G035L087 (item number 1023462) is designed for precise contacting where installation space is limited. Tip style 29 (4-point crown) targets FP590D2903S038G035L087 at solder bumps and pads; Fine Pitch Probes are used, among other applications, in semiconductor final test, WLCSP solutions, MEMS and micro-PCB testing. In FP590D2903S038G035L087, the double-plunger design provides spring-loaded contacting on both sides and can compensate for mechanical tolerances in compact interfaces. Key design data for FP590D2903S038G035L087 includes pitch 0.8 mm / 31 mil, spring force 35 cN, continuous current 2.5 A.