Données techniques
| Généralités | |
|---|---|
| Structure | Double Plunger Probe |
| Type/famille | FP-DF |
| Pas (mm/mil) | 0,30 / 12 |
| Température | -45°C...+120°C |
| Dimensions | |
|---|---|
| Longueur totale (mm) | 4.5 |
| Hauteur hors tout (mm) | 0.65 |
| Diamètre du style de pointe (mm) | 0.2 |
| Diamètre du fût (mm) | 0.2 |
| Diamètre du style de pointe (mm) 2 | 0.1 |
| Matériaux et surfaces | |
|---|---|
| Style de pointe | 71 |
| Style de pointe 2 | 11 |
| Matériau du piston | Beryllium copper |
| Revêtement du piston | Gold |
| Matériau du fût | Nickel |
| Revêtement du fût | Gold |
| Matériau du ressort | Spring steel |
| Revêtement du ressort | Gold |
| Matériau du piston 2 | Beryllium copper |
| Revêtement du piston 2 | Gold |
| Spécifications mécaniques | |
|---|---|
| Précontrainte (cN) | 10 |
| Force du ressort (cN) | 15 |
| Course nominale (mm) | 0.3 |
| Course maximale (mm) | 0.45 |
| Spécifications électriques | |
|---|---|
| Courant continu (A) | 0.7 |
| Résistance de contact typique (mΩ) | 500 |
| Fréquence (GHz) | 18.8 |
Graphiques
Beschreibung des Produkts
The Fine Pitch Double Plunger Probe FP200DF7111B020G015L045 (item number 1024610) is designed for precise contacting where installation space is limited. Tip style 71 (Half Moon) targets FP200DF7111B020G015L045 at Kelvin measurements at very small pitches with anti-rotation alignment provided by the hole pattern; Fine Pitch Probes are used, among other applications, in semiconductor final test, WLCSP solutions, MEMS and micro-PCB testing. In FP200DF7111B020G015L045, the double-plunger design provides spring-loaded contacting on both sides and can compensate for mechanical tolerances in compact interfaces. Key design data includes pitch 0.3 mm / 12 mil, spring force 15 cN, continuous current 0.7 A.