Données techniques
| Généralités | |
|---|---|
| Structure | Basic Contact Probe |
| Type/famille | F772 |
| Pas (mm/mil) | 2,54 / 100 |
| Température | -45°C...+80°C |
| Définition complémentaire | EXX |
| Dimensions | |
|---|---|
| Longueur totale (mm) | 37 |
| Hauteur hors tout (mm) | 15 |
| Diamètre du style de pointe (mm) | 1.3 |
| Diamètre du fût (mm) | 1.66 |
| Diamètre du collet (mm) | 2.04 |
| Diamètre de la bague de serrage (mm) | 2.04 |
| Matériaux et surfaces | |
|---|---|
| Style de pointe | 33 |
| Matériau du piston | Steel |
| Revêtement du piston | Longtime Gold |
| Matériau du fût | Nickel silver |
| Revêtement du fût | Gold |
| Matériau du ressort | Spring steel |
| Revêtement du ressort | Silver |
| Spécifications mécaniques | |
|---|---|
| Précontrainte (cN) | 80 |
| Force du ressort (cN) | 200 |
| Course nominale (mm) | 4 |
| Course maximale (mm) | 5 |
| Précision de pointage +/- (mm) | 0.08 |
| Spécifications électriques | |
|---|---|
| Courant continu (A) | 5 |
| Résistance de contact typique (mΩ) | 25 |
Graphiques
Beschreibung des Produkts
The Basic Contact Probe F77233S130L200E15H (item number 1169312) is designed for repeated contacting of test points in electronic test fixtures. With tip style 33 (Square lance 38°), F77233S130L200E15H combines ICT/FCT use with a geometry intended for vias and solder pads where the edges can break through residues and oxide layers. F77233S130L200E15H combines a pitch of 2.54 mm / 100 mil with tip style 33 (Square lance 38°) and a tip diameter of 1.3 mm. For F77233S130L200E15H, spring force is 200 cN at a nominal travel of 4 mm. For F77233S130L200E15H, the specified continuous current is 5 A. The final H identifies the high-temperature version; F77233S130L200E15H is suitable for applications up to 200 °C.