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ViProbe® Perspective 1

Semiconductor Testing (웨이퍼 테스트) ViProbe®

Proven and reliable, this vertical buckling beam technology has been established in the market for many years and is valued for its unique ease of repair and high adaptability to a wide range of applications and pad materials.

기술 데이터

사양
테스트 대상의 최소 피치 56 µm
접촉 요소의 최소 직경 1,6 mil
최대 접촉 면적 80 mm x 80 mm
온도 -55°C...+180°C
상온에서의 전류 부하 능력 800 mA
권장 배송 시 접촉력 2,4 cN - 10,7 cN
접촉 재료
접촉 재료 1 Gold
접촉 재료 2 Palladium
접촉 재료 3 Diverse
접촉 재료 4 Solder ball
접촉 재료 5 Aluminium
접촉 재료 6 Copper

테스트 카드 서비스

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