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ViProbe® II Perspective 1

Semiconductor Testing (웨이퍼 테스트) ViProbe® II

ViProbe® II integrates proven ViProbe® technology with enhanced features for extended lifetime and wafer safety.

기술 데이터 시트

기술 데이터

사양
테스트 대상의 최소 피치 50 µm
접촉 요소의 최소 직경 1,6 mil
최대 접촉 면적 105 mm x 105 mm
온도 -55°C...+180°C
상온에서의 전류 부하 능력 800 mA
권장 배송 시 접촉력 2,4 cN - 10 cN
접촉 재료
접촉 재료 1 Gold
접촉 재료 2 Palladium
접촉 재료 3 Diverse
접촉 재료 4 Solder ball
접촉 재료 5 Aluminium
접촉 재료 6 Copper

테스트 카드 서비스

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