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LiProbe®
LiProbe®는 FEINMETALL의 테스트 카드 솔루션으로, 무선 주파수 및 고전류 애플리케이션에서 정밀한 접촉을 위해 MEMS 기반의 라멜 접촉부(라멜 빔)를 사용합니다.
이 라멜 빔은 가변 단면을 갖춘 유연한 빔 설계를 가능하게 하며, MHz에서 GHz에 이르는 주파수 범위에서 높은 신호 무결성을 제공합니다. 짧은 구조와 조정 가능한 라멜 수를 통해 LiProbe® 접점은 정밀한 접점 형성, 높은 신호 품질 및 신뢰할 수 있는 테스트 결과를 보장합니다.
자주 묻는 질문
라멜 빔은 유연한 접촉 형상, 높은 전류 용량 및 안정적인 고주파 신호 전송을 가능하게 합니다.
LiProbe®는 특히 HF 웨이퍼 테스트, 고전류 테스트 및 까다로운 반도체 테스트에 사용됩니다.
LiProbe®는 특히 HF 웨이퍼 테스트, 고전류 테스트 및 까다로운 반도체 테스트에 사용됩니다.
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