개인정보 보호 설정

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필요한

필수 쿠키는 웹사이트의 기본 기능에 필요합니다. 이를 통해 웹사이트가 정상적으로 작동하도록 보장합니다.

이름 cookie_optin
공급업체 FEINMETALL
진행 절차 1년
목적 현재 도메인에 대한 사용자의 쿠키 동의 상태를 저장합니다.
이름 ak_bmsc
공급업체 Salesforce, Inc.
진행 절차 1시간
목적 봇 및 스팸으로부터의 보호.
성능

성능 쿠키는 웹사이트 운영자가 방문자가 웹사이트와 상호작용하는 방식을 이해하는 데 도움을 주기 위해 정보를 익명으로 수집합니다.

이름 _ga
공급업체 Google LLC
진행 절차 2년
목적 고유한 사용자 식별에 적용됩니다.
이름 _gid
공급업체 Google LLC
진행 절차 24시간
목적 사용자 식별에 적용됩니다.
이름 _sfid
공급업체 Salesforce, Inc.
진행 절차 2년
목적 방문자 수집 및 인식 분석 및 마케팅 목적.
개인정보 보호
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FeinProbe®

FeinProbe®는 FEINMETALL의 테스트 카드 솔루션으로, 스프링 컨텍 프로브와 테스트 카드 기술을 결합하여 WLCSP, SiP 및 플립칩 웨이퍼의 범프에 정밀한 접촉을 가능하게 합니다.

FeinProbe®는 이러한 웨이퍼 기술을 위해 특별히 개발되었으며, 높은 전류를 견디면서도 높은 신호 무결성을 보장하는 고정밀 스프링 컨텍 프로브를 사용합니다.

우리의 프로브 카드 사업부
FEINMETALL FeinProbe® 용어집

자주 묻는 질문

FeinProbe®는 매우 작은 구조에서도 고정밀 접촉, 높은 신호 무결성 및 신뢰할 수 있는 전류 전송을 가능하게 합니다.

웨이퍼 테스트에는 작은 접촉 면적을 안정적으로 접촉시키면서 동시에 높은 전기적 요구 사항을 충족시키는 고정밀 스프링 컨텍 프로브가 필요합니다.

FeinProbe®는 일반적으로 웨이퍼 프로버 및 반도체 테스트 시스템에 사용되어 웨이퍼 상의 칩을 전기적으로 검사합니다.

기타 용어

LiProbe® Semiconductor Testing ViProbe® ViProbe® II 프로브 카드 용어집으로 돌아가기

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