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LiProbe®

LiProbe®是 FEINMETALL 推出的一款测试卡解决方案，采用基于 MEMS 的片状触点（片状梁），用于在射频和大电流应用中实现精确接触。

片状触点梁支持具有可变横截面的灵活设计，并在 MHz 至 GHz 频率范围内提供高信号完整性。凭借其紧凑的结构和可调节的片数，LiProbe® 触点可确保精准的接触、卓越的信号质量以及可靠的测试结果。

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FEINMETALL LiProbe® 词汇表

常见问题解答

叶片梁可实现灵活的接触几何形状、高电流承载能力和稳定的射频信号传输。

LiProbe® 特别适用于高频晶圆测试、高电流测试和要求苛刻的半导体测试。

LiProbe® 特别适用于高频晶圆测试、高电流测试和要求苛刻的半导体测试。

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