Kiểm tra JTAG, JTAG test
Kiểm tra JTAG, JTAG test là một quy trình kiểm tra kỹ thuật số để kiểm tra các bảng mạch in và các mô-đun điện tử. Nó dựa trên tiêu chuẩn IEEE-1149.x và sử dụng giao diện kiểm tra tích hợp (JTAG) để truyền tín hiệu vào các mạch tích hợp và đọc tín hiệu.
Điều này cho phép phát hiện các lỗi kết nối như đường dây hở, ngắn mạch hoặc lỗi dây dẫn – ngay cả khi không có quyền truy cập trực tiếp vào các điểm kiểm tra vật lý của bảng mạch in. Boundary Scan thường được sử dụng cho các cụm lắp ráp tích hợp cao với mật độ điểm kiểm tra thấp, ví dụ như các thành phần BGA hoặc Fine-Pitch.
Trong sản xuất điện tử, Boundary Scan thường được sử dụng để bổ sung cho Kiểm tra linh kiện hỏng (ICT) và Kiểm tra chức năng (FCT).
Câu hỏi thường gặp
Boundary Scan được sử dụng để kiểm tra các kết nối bảng mạch, chẩn đoán các lỗi kết nối, cũng như lập trình và gỡ lỗi các mô-đun.
Boundary Scan thường được kết hợp với Kiểm tra linh kiện hỏng (ICT) và Kiểm tra chức năng (FCT) hoặc Kiểm tra Flying Probe để thực hiện kiểm tra điện hoàn chỉnh cho các mô-đun.
Các lỗi điển hình là kết nối hở, ngắn mạch, đấu dây sai hoặc thiếu điểm hàn giữa các mạch tích hợp.
Các thuật ngữ khác
Còn câu hỏi nào nữa không?
Cho dù là câu hỏi, đề xuất hay yêu cầu: Chúng tôi luôn sẵn sàng tư vấn và hỗ trợ.
