Boundary Scan (JTAG)
Boundary Scan (JTAG) ist ein digitales Testverfahren zur Prüfung von Leiterplatten und elektronischen Baugruppen. Es basiert auf dem IEEE-1149.x-Standard und nutzt eine integrierte Testschnittstelle (JTAG), über die Signale in integrierte Schaltungen eingespeist und ausgelesen werden.
Damit lassen sich Verbindungsfehler wie offene Leitungen, Kurzschlüsse oder Verdrahtungsfehler erkennen – auch ohne direkten Zugriff auf physische Testpunkte der Leiterplatte. Boundary Scan wird häufig bei hochintegrierten Baugruppen mit geringer Testpunktdichte, z. B. bei BGA- oder Fine-Pitch-Bauteilen, eingesetzt.
In der Elektronikfertigung wird Boundary Scan häufig ergänzend zu In-Circuit-Tests (ICT) und Funktionstests (FCT) eingesetzt.
FAQ
Boundary Scan wird zur Prüfung von Leiterplattenverbindungen, zur Diagnose von Interconnect-Fehlern sowie zur Programmierung und Debugging von Baugruppen eingesetzt.
Boundary Scan wird häufig mit In-Circuit-Test (ICT) und Funktionstest (FCT) oder Flying Probe Tests kombiniert, um eine vollständige elektrische Prüfung von Baugruppen zu ermöglichen.
Typische Fehler sind offene Verbindungen, Kurzschlüsse, falsche Verdrahtungen oder fehlende Lötstellen zwischen integrierten Schaltungen.
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