Balayage de limite (JTAG)
Le Balayage de limite (JTAG) est une procédure de test numérique permettant de contrôler les circuits imprimés et les modules électroniques. Il repose sur la norme IEEE-1149.x et utilise une interface de test intégrée (JTAG) qui permet d'injecter et de lire des signaux dans des circuits intégrés.
Cela permet de détecter les défauts de connexion tels que les lignes ouvertes, les courts-circuits ou les erreurs de câblage, même sans accès direct aux points de test physiques du circuit imprimé. Le Boundary Scan est souvent utilisé pour les modules hautement intégrés avec une faible densité de points de test, par exemple pour les composants BGA ou à pas fin.
Dans la fabrication électronique, le boundary scan est souvent utilisé en complément des Tests in-situ (ICT) et des Tests fonctionnels (FCT).
FAQ
Le Boundary Scan est utilisé pour tester les connexions des circuits imprimés, diagnostiquer les erreurs d'interconnexion et programmer et déboguer les modules.
Le Boundary Scan est souvent associé à des tests in-situ (ICT) et à des tests fonctionnels (FCT) ou à des tests Flying Probe afin de permettre un contrôle électrique complet des modules.
Les erreurs typiques sont les connexions ouvertes, les courts-circuits, les câblages incorrects ou les soudures manquantes entre les circuits intégrés.
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