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FeinProbe® Perspective 1

Semiconductor Testing (WLCSP) FeinProbe®

FeinProbe® combines spring contact pins with probe card technology for precise bump contacting on WLCSP, SiP, and flip-chip wafers.

技術データシート

技術データ

仕様
試験対象物の最小ピッチ 150 µm
コンタクトエレメントの最小直径 70 µm
最大接触面積 80 mm x 80 mm
温度 -40°C...+150°C
室温での電流容量 2100 mA
推奨配送時の接触力 4,5 cN - 15,1 cN
-1dB 限界でのアナログ帯域幅 100 GHz
接触材料
接触材料 1 Gold
接触材料 2 Solder ball
接触材料 3 Copper

プローブカードサービス

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