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头型描述了接触探针 接触尖端的几何结构。它根据相应的接触面进行调整，并影响接触力分布、压入深度以及在重复测试循环中的磨损情况。通过选择合适的头型，即使在不同的测试点表面上，也能确保可靠的电气接触。 典型的头型包括铲形、蜂窝形或冠形等。
不同的表面，如焊盘、导线或引脚，需要特定的几何形状才能确保稳定的电气接触。
头型会影响接触探针接触测试点表面、氧化层穿透并建立稳定的电气连接的方式。
选择取决于测试点形状、间距（网格）、表面、弹力和测试循环次数等因素。
无论您有疑问、建议还是要求：我们随时为您提供咨询和支持。
