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探针卡
测试卡是一种接触单元，用于自动化测试系统中，以精确传输测试系统与被测对象（例如晶圆或半导体器件）之间的电信号。它包含接触探针或特殊的接触结构，可同时对多个测试点进行可重复的接触。探针卡的设计旨在确保高信号完整性、精确定位和稳定的测量条件。
FEINMETALL的产品组合中采用了多种测试卡解决方案，例如ViProbe®、ViProbe® II、FeinProbe®或LiProbe®。这些解决方案利用了弹簧接触探针或MEMS片状触点等不同的接触技术，专为晶圆测试、射频测试或高电流测试等高要求应用而设计。
常见问题解答
探针卡包含用于精确信号传输的接触探针、接触结构或特殊接触技术。
探针卡必须确保接触点的精确定位、高信号完整性、低的阻力以及测试过程中的重复性好。
FEINMETALL 的测试卡解决方案包括ViProbe®、ViProbe® II、FeinProbe®和LiProbe® 等，这些解决方案是为各种半导体和晶圆测试应用而开发的。
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