技術データ
| 一般的な事項 | |
|---|---|
| 構成 | Double Plunger Probe |
| タイプ/ファミリー | FP-DF |
| ピッチ (mm/mil) | 0,75 / 30 |
| 温度 | -45°C...+150°C |
| 寸法 | |
|---|---|
| 全長 (mm) | 5.84 |
| 突出高さ (mm) | 3 |
| 先端形状直径 (mm) | 0.45 |
| バレル径 (mm) | 0.52 |
| カラー径 (mm) | 0.64 |
| 先端形状直径 (mm) 2 | 0.28 |
| 材料および表面 | |
|---|---|
| 先端形状 | 29 |
| 先端形状 2 | 11 |
| プランジャー材質 | Beryllium copper |
| プランジャーめっき | Defensive |
| バレル材質 | Bronze |
| バレルめっき | Gold |
| バネ材質 | High-grade steel |
| バネめっき | Gold |
| プランジャー材質 2 | Beryllium copper |
| プランジャーめっき 2 | Gold |
| 機械的仕様 | |
|---|---|
| 予圧 (cN) | 5 |
| バネ圧 (cN) | 42 |
| 推奨ストローク (mm) | 0.75 |
| 最大ストローク (mm) | 0.9 |
| 電気的仕様 | |
|---|---|
| 連続電流 (A) | 5 |
| 接触抵抗Typ. (mOhm) | 50 |
| 周波数 (GHz) | 6 |
グラフィック
Beschreibung des Produkts
The Fine Pitch Double Plunger Probe FP520DF2911B045P042L058 (item number 1142380) is designed for precise contacting where installation space is limited. Tip style 29 (4-point crown) targets FP520DF2911B045P042L058 at solder bumps and pads; Fine Pitch Probes are used, among other applications, in semiconductor final test, WLCSP solutions, MEMS and micro-PCB testing. In FP520DF2911B045P042L058, the double-plunger design provides spring-loaded contacting on both sides and can compensate for mechanical tolerances in compact interfaces. Key design data includes pitch 0.75 mm / 30 mil, spring force 42 cN, continuous current 5 A.