기술 데이터
| 일반 사항 | |
|---|---|
| 구성 | Double Plunger Probe |
| 형태/계열 | FP-DF |
| 거리(mm/mil) | 0,75 / 30 |
| 온도 | -45°C...+150°C |
| 치수 | |
|---|---|
| 전체 길이(mm) | 5.84 |
| 돌출 높이 (mm) | 3 |
| 팁 스타일 직경(mm) | 0.45 |
| 배럴 직경(mm) | 0.52 |
| 칼라 직경(mm) | 0.64 |
| 팁 스타일 직경(mm) 2 | 0.28 |
| 재료 및 표면 | |
|---|---|
| 팁 스타일 | 29 |
| 팁 스타일 2 | 11 |
| 플런저 소재 | Beryllium copper |
| 플런저 플레이팅 | Defensive |
| 배럴 소재 | Bronze |
| 배럴 플레이팅 | Gold |
| 스프링 소재 | High-grade steel |
| 스프링 플레이팅 | Gold |
| 플런저 소재 2 | Beryllium copper |
| 플런저 플레이팅 2 | Gold |
| 기계적 사양 | |
|---|---|
| 예압력 (cN) | 5 |
| 스프링포스(cN) | 42 |
| 정격 트래블(mm) | 0.75 |
| 맥시멈 트래블(mm) | 0.9 |
| 전기적 사양 | |
|---|---|
| 연속 전류(A) | 5 |
| 일반적인 접촉 저항(mOhm) | 50 |
| 주파수(GHz) | 6 |
그래픽
Beschreibung des Produkts
The Fine Pitch Double Plunger Probe FP520DF2911B045P042L058 (item number 1142380) is designed for precise contacting where installation space is limited. Tip style 29 (4-point crown) targets FP520DF2911B045P042L058 at solder bumps and pads; Fine Pitch Probes are used, among other applications, in semiconductor final test, WLCSP solutions, MEMS and micro-PCB testing. In FP520DF2911B045P042L058, the double-plunger design provides spring-loaded contacting on both sides and can compensate for mechanical tolerances in compact interfaces. Key design data includes pitch 0.75 mm / 30 mil, spring force 42 cN, continuous current 5 A.