Ngôn ngữ:
Danh sách ghi chú ( Sản phẩm):
FP520DF2911B045P042L058 Perspective 1 FP520DF2911B045P042L058 Perspective 2

Chân kim siêu nhỏ (Tiếp Xúc Nhỏ) (> 500 µm) FP520DF2911B045P042L058

Mã sản phẩm 1142380

Bảng dữ liệu kỹ thuật

Số lượng

Dữ liệu kỹ thuật

Thông tin chung
Cấu trúc Double Plunger Probe
Loại/dòng sản phẩm FP-DF
Bước (mm/mil) 0,75 / 30
Nhiệt độ -45°C...+150°C
Kích thước
Tổng chiều dài (mm) 5.84
Chiều cao nhô ra (mm) 3
Đường kính đầu mũi (mm) 0.45
Đường kính thân (mm) 0.52
Đường kính cổ (mm) 0.64
Đường kính đầu mũi (mm) 2 0.28
Vật liệu và bề mặt
Kiểu đầu kim 29
Kiểu đầu kim 2 11
Vật liệu pít-tông 2 Beryllium copper
Mạ pít-tông Defensive
Vật liệu thân Bronze
Mạ thân Gold
Vật liệu lò xo High-grade steel
Mạ lò xo Gold
Vật liệu pít-tông 2 2 Beryllium copper
Mạ pít-tông 2 Gold
Thông số kỹ thuật cơ khí
Lực căng trước (cN) 5
Lực lò xo (cN) 42
Hành trình danh định (mm) 0.75
Hành trình tối đa (mm) 0.9
Thông số kỹ thuật điện
Cường độ dòng điện liên tục (A) 5
Điện trở tiếp xúc điển hình (mOhm) 50
Tần số (GHz) 6

Đồ họa

FP520DF2911B045P042L058 Bản vẽ gia đình FP520DF2911B045P042L058 Kiểu đầu kim 1 FP520DF2911B045P042L058 Kiểu đầu kim 2

Beschreibung des Produkts

The Fine Pitch Double Plunger Probe FP520DF2911B045P042L058 (item number 1142380) is designed for precise contacting where installation space is limited. Tip style 29 (4-point crown) targets FP520DF2911B045P042L058 at solder bumps and pads; Fine Pitch Probes are used, among other applications, in semiconductor final test, WLCSP solutions, MEMS and micro-PCB testing. In FP520DF2911B045P042L058, the double-plunger design provides spring-loaded contacting on both sides and can compensate for mechanical tolerances in compact interfaces. Key design data includes pitch 0.75 mm / 30 mil, spring force 42 cN, continuous current 5 A.