ICT-Kontaktstift
Ein ICT-Kontaktstifte sind Federkontaktstifte, die in In-Circuit-Testsystemen (ICT) eingesetzt werden, um elektrische Verbindungen zu Testpunkten auf Leiterplatten herzustellen. Er ermöglicht die Prüfung von Bauteilwerten, Kurzschlüssen, Unterbrechungen und Polaritäten direkt auf der bestückten Leiterplatte.
Er ermöglicht die Prüfung von Bauteilwerten, Kurzschlüssen, Unterbrechungen und Polaritäten direkt auf der bestückten Leiterplatte. Durch definierte Kontaktkraft, präzise Kopfform und geringen Kontaktwiderstand wird eine zuverlässige und reproduzierbare Kontaktierung gewährleistet.
ICT-Kontaktstifte werden typischerweise in Prüfadaptern (Bed-of-Nails-Systemen) eingesetzt und sind ein zentraler Bestandteil der Leiterplattenprüfung.
FAQ
Wichtige Merkmale sind definierte Kontaktkraft, geringe Kontaktwiderstände, hohe Zyklenfestigkeit und geeignete Kopfformen für unterschiedliche Testpunkte.
ICT-Kontaktstifte sind speziell für dichte Testpunktfelder auf Leiterplatten ausgelegt und werden typischerweise in Bed-of-Nails-Testsystemen verwendet.
ICT-Kontaktstifte sorgen durch definierte Kontaktkraft und niedrigen Kontaktwiderstand für stabile elektrische Verbindungen und ermöglichen dadurch präzise und reproduzierbare Messergebnisse im In-Circuit-Test.
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