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LiProbe® Perspective 1

Semiconductor Testing (웨이퍼 테스트) LiProbe®

MEMS lamella beams enable highly flexible beam designs with variable cross-sections for demanding high-frequency and high-current applications.

기술 데이터

사양
테스트 대상의 최소 피치 60 µm
최대 접촉 면적 105 mm x 105 mm
온도 -55°C...+180°C
상온에서의 전류 부하 능력 1300 mA
권장 배송 시 접촉력 1,4 cN - 3,8 cN
-1dB 한계에서의 아날로그 대역폭 100 GHz
접촉 재료
접촉 재료 1 Gold
접촉 재료 2 Palladium
접촉 재료 3 Diverse
접촉 재료 4 Solder ball
접촉 재료 5 Aluminium
접촉 재료 6 Copper

테스트 카드 서비스

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