FeinProbe®
FeinProbe® est une solution de carte de test développée par FEINMETALL qui combine des Pointes de Test avec la technologie des cartes de test afin de permettre une connexion précise des bosses sur les plaquettes WLCSP, SiP et flip-chip.
La FeinProbe® a été spécialement développée pour ces technologies de plaquettes et utilise des Pointes de Test de haute précision qui résistent à des courants élevés tout en garantissant une intégrité du signal élevée.
FAQ
FeinProbe® permet un contact ultraprécis, une intégrité élevée du signal et une transmission fiable du courant, même avec des structures très petites.
Les tests de plaquettes nécessitent des poignées de Test à ressort de haute précision qui assurent un contact fiable avec les petites surfaces de contact tout en répondant à des exigences électriques élevées.
FeinProbe® est généralement utilisé dans les testeurs de wafers et les systèmes de test de semi-conducteurs afin de contrôler électriquement les puces dès leur présence sur le wafer.
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