FeinProbe®
FeinProbe® là giải pháp bảng kiểm tra của FEINMETALL, kết hợp các Chân Kim Tiếp Xúc Lò Xo với công nghệ bảng kiểm tra để cho phép tiếp xúc chính xác với các điểm nối trên các tấm wafer WLCSP, SiP và Flipchip.
FeinProbe® được phát triển đặc biệt cho các công nghệ wafer này và sử dụng các Chân kim Tiếp Xúc Lò Xo có độ chính xác cao, chịu được dòng điện lớn đồng thời đảm bảo Tính toàn vẹn tín hiệu cao.
Câu hỏi thường gặp
FeinProbe® cho phép kết nối chính xác cao, Tính toàn vẹn tín hiệu cao và truyền tải điện năng đáng tin cậy, ngay cả với các cấu trúc rất nhỏ.
Thử nghiệm wafer đòi hỏi các Chân kim Tiếp Xúc Lò Xo có độ chính xác cao, có thể tiếp xúc an toàn với các bề mặt tiếp xúc nhỏ đồng thời đáp ứng các yêu cầu điện cao.
FeinProbe® thường được sử dụng trong các thiết bị kiểm tra wafer và hệ thống kiểm tra bán dẫn để kiểm tra điện tử các chip trên wafer.
Các thuật ngữ khác
Còn câu hỏi nào nữa không?
Cho dù là câu hỏi, đề xuất hay yêu cầu: Chúng tôi luôn sẵn sàng tư vấn và hỗ trợ.