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FeinProbe®

FeinProbe® ist eine Prüfkartenlösung von FEINMETALL, die Federkontaktstifte mit Prüfkartentechnologie kombiniert, um eine präzise Kontaktierung von Bumps auf Wafern zu ermöglichen. Sie wurde speziell für Technologien wie WLCSP, SiP und Flipchip entwickelt und ermöglicht eine hochpräzise Kontaktierung bei gleichzeitig hoher Stromtragfähigkeit und Signalintegrität.

FeinProbe® wird in Wafer-Probern und Halbleiter-Testsystemen eingesetzt und ist eine Schlüsseltechnologie für moderne Halbleiterprüfungen.

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FEINMETALL FeinProbe Glossar

FAQ

FeinProbe® ermöglicht hochpräzise Kontaktierung, hohe Signalintegrität und zuverlässige Stromübertragung, selbst bei sehr kleinen Strukturen.

Wafer-Tests erfordern hochpräzise Federkontaktstifte, die kleine Kontaktflächen sicher kontaktieren und gleichzeitig hohe elektrische Anforderungen erfüllen.

FeinProbe® wird typischerweise in Wafer-Probern und Halbleiter-Testsystemen eingesetzt, um Chips bereits auf dem Wafer elektrisch zu prüfen.

Weitere Begriffe

LiProbe® Prüfkarte Semiconductor Testing ViProbe® ViProbe® II Zurück zum Glossar

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