数据保护设置

为了为您提供更好的用户体验，我们使用了 Cookie。这些 Cookie 仅用于分析网站访问量，绝不会传递给第三方！

必要

必要Cookie是网站基本功能所必需的。这确保了网站能够正常运行。

名称 cookie_optin
供应商 FEINMETALL
流程 1 年
目的 保存用户对当前域名的 Cookie 同意状态。
名称 ak_bmsc
供应商 Salesforce, Inc.
流程 1 小时
目的 保护您免受机器人和垃圾邮件的侵扰。
性能

性能型Cookie通过匿名收集信息，帮助网站运营商了解访客与网站的互动方式。

名称 _ga
供应商 Google LLC
流程 2 年
目的 用于识别唯一用户。
名称 _gid
供应商 Google LLC
流程 24 小时
目的 用于识别用户。
名称 _sfid
供应商 Salesforce, Inc.
流程 2 年
目的 为分析和营销目的记录和识别访客。
数据保护
网站搜索:

要搜索产品，请使用Product Finder中的搜索功能。

语言:
Deutsch English Español Français 日本語 한국어 Tiếng Việt 中文
备忘清单 ( 产品):
查询产品 前往 Product Finder
首页 › 词汇表 › FeinProbe®
↳ 返回词汇表

FeinProbe®

FeinProbe®是 FEINMETALL 推出的一种测试卡解决方案，它将弹簧接触探针与测试卡技术相结合，可实现对 WLCSP、SiP 和倒装芯片晶圆上凸点的精确接触。

FeinProbe® 专为这些晶圆技术开发，采用高精度弹簧接触探针，既能承受大电流，又能确保高信号完整性。

我们的探针卡 商业单元
FEINMETALL FeinProbe® 词汇表

常见问题解答

FeinProbe® 即使在非常小的结构中，也能实现高精度的接触、高信号完整性和可靠的电流传输。

晶圆测试需要高精度的弹簧接触探针，这些探针能够可靠地接触小接触面，同时满足高电气要求。

FeinProbe® 通常用于晶圆测试仪和半导体测试系统，用于对晶圆上的芯片进行电气测试。

更多术语

LiProbe® Semiconductor Testing ViProbe® ViProbe® II 探针卡 返回词汇表

还有其他问题吗？

无论您有疑问、建议还是要求：我们随时为您提供咨询和支持。

联系我们 了解 FEINMETALL
FEINMETALL 团队