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ViProbe®

ViProbe®是 FEINMETALL 针对半导体行业垂直测试卡（Probe Card）的注册产品名称。它用于在晶圆测试系统中对半导体晶圆进行精确接触。

ViProbe® 具有高度的适应性、广泛的应用范围和简便的维修性。这有助于减少停机时间并最大限度地降低维护成本，使其成为半导体测试领域的一种经济高效的解决方案。

我们的探针卡 商业单元
FEINMETALL ViProbe® 词汇表

常见问题解答

该解决方案具有高度的灵活性、多种应用可能性和易于维修的特点，从而减少了维护工作量和停机时间。

凭借高度的适应性、简单的维护和坚固的结构，ViProbe® 能够进行可靠的测试，同时减少停机时间。

垂直探针卡具有高接触密度、稳定的信号传输和精确的接触等特点，特别适合用于现代半导体结构。

更多术语

FeinProbe® LiProbe® Semiconductor Testing ViProbe® II 探针卡 返回词汇表

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